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工業(yè)制造行業(yè)解決方案(5)
作者:admin 內(nèi)容來(lái)源:本站原創(chuàng) 發(fā)布時(shí)間:2016年04月27日 瀏覽量:
工業(yè)制造行業(yè)全面解決方案

光學(xué)材料透射和反射光譜的測(cè)定(UV)

UV-NIR分光光度計(jì)可精確測(cè)量從近紅外區(qū)至紫外區(qū)的寬波長(zhǎng)范圍的透射光譜和反射光譜。

在該實(shí)例中,UV-3700 UV-VIS-NIR分光光度計(jì)用于測(cè)量CD基片的透射光譜和硅片反射光譜。

工業(yè)制造行業(yè)解決方案
CD基片的透射光譜

工業(yè)制造行業(yè)解決方案
硅片的反射光譜

UV-3700 UV-VIS-NIR分光光度計(jì)

工業(yè)制造行業(yè)解決方案

UV-3700可實(shí)現(xiàn)大樣品的無(wú)損測(cè)量,并可在寬波長(zhǎng)范圍(從紫外到紅外)內(nèi)測(cè)量光譜光度。

在光源處、檢測(cè)器及積分球中使用基本不吸收深紫外光(DUV)的材料并用氮?dú)鈨艋▎紊骱蜆悠肥以趦?nèi)的所有的光路,可以對(duì)165至3300nm寬波長(zhǎng)范圍的光譜進(jìn)行測(cè)量(使用選配的DUV型)。



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